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精密LCR測(cè)試儀多頻率高精度阻抗測(cè)量 益和 6630 精密 LCR 測(cè)試儀，是一款專為滿足多領(lǐng)域高精度測(cè)量需求而打造的專業(yè)儀器，在性能、功能、連接性等多方面。 信號(hào)源頻率覆蓋廣：信號(hào)源頻率范圍涵蓋 DC，以及 10Hz - 1/3/5/10/20/30MHz/50MHz，能為不同特性的電子元件提供適配的測(cè)試信號(hào)，無論是低頻電路元件，還是高頻通訊元件，都能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)試。

精密磁導(dǎo)率LCR測(cè)試儀6630特色：0.1%基本精確度 提供電腦連線軟體支援，軟體進(jìn)階編輯功能 克服測(cè)試頻率變高而導(dǎo) 致治具影響測(cè)試值的誤差因素 測(cè)試速度每秒可達(dá)30個(gè)項(xiàng)目，自動(dòng)掃描偵 測(cè)功能大幅提昇生產(chǎn)效率

實(shí)驗(yàn)室LCR測(cè)試儀6630特色：0.1%基本精確度 提供電腦連線軟體支援，軟體進(jìn)階編輯功能 克服測(cè)試頻率變高而導(dǎo) 致治具影響測(cè)試值的誤差因素 測(cè)試速度每秒可達(dá)30個(gè)項(xiàng)目，自動(dòng)掃描偵 測(cè)功能大幅提昇生產(chǎn)效率

磁導(dǎo)率LCR測(cè)試儀6630特色：0.1%基本精確度 提供電腦連線軟體支援，軟體進(jìn)階編輯功能 克服測(cè)試頻率變高而導(dǎo) 致治具影響測(cè)試值的誤差因素 測(cè)試速度每秒可達(dá)30個(gè)項(xiàng)目，自動(dòng)掃描偵 測(cè)功能大幅提昇生產(chǎn)效率

磁導(dǎo)率LCR測(cè)試儀特色：0.1%基本精確度 提供電腦連線軟體支援，軟體進(jìn)階編輯功能 克服測(cè)試頻率變高而導(dǎo) 致治具影響測(cè)試值的誤差因素 測(cè)試速度每秒可達(dá)30個(gè)項(xiàng)目，自動(dòng)掃描偵 測(cè)功能大幅提昇生產(chǎn)效率

磁性元件分析儀LCR6630，具備高精確度、速度，且經(jīng)濟(jì)型多功能，能夠執(zhí)行的元件測(cè)試。可搭配DC Bias 機(jī)型。多項(xiàng)參數(shù)同時(shí)測(cè)是只需一次設(shè)定，一次同時(shí)顯示。高精密值的量測(cè)數(shù)據(jù)與的功效，為元件和材料*的測(cè)試儀器。

益和多路LCR測(cè)試儀器 5238等：0.1%基本精確度 提供電腦連線軟體支援，軟體進(jìn)階編輯功能 克服測(cè)試頻率變高而導(dǎo) 致治具影響測(cè)試值的誤差因素 測(cè)試速度每秒可達(dá)30個(gè)項(xiàng)目，自動(dòng)掃描偵 測(cè)功能大幅提昇生產(chǎn)效率

益和多路LCR測(cè)試儀器5238/5265等：0.1%基本精確度 提供電腦連線軟體支援，軟體進(jìn)階編輯功能 克服測(cè)試頻率變高而導(dǎo) 致治具影響測(cè)試值的誤差因素 測(cè)試速度每秒可達(dá)30個(gè)項(xiàng)目，自動(dòng)掃描偵 測(cè)功能大幅提昇生產(chǎn)效率